Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej (LMEMiDR)
prof. dr hab. Bogusław Bagiński
tel. (+48 22) 55 40 320
pok. 2061
e-mail: B.Baginski1@uw.edu.pl
mgr Grzegorz Kaproń (specjalista badawczo-techniczny)
tel. (+48 22) 55 40 342
pok. 2052
e-mail: gkapron@uw.edu.pl
mgr Anna Gurba (starszy technik (zatrudnienie w projekcie)/ doktorantka)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej/ Katedra Geochemii, Mineralogii i Petrologii
nr pokoju: 2105
tel. (22) 55 40 304
e-mail: anna.grabarczyk@uw.edu.pl
dr Petras Jokubauskas (specjalista badawczo-techniczny)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: 2088
tel. (22) 55 40 323
e-mail: p.jokubauskas@uw.edu.pl
dr Jakub Kotowski (starszy specjalista badawczo-techniczny)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: 3034
tel. –
e-mail: j.kotowski@uw.edu.pl
mgr inż. Marcin Łącki (starszy specjalista inżynieryjno-techniczny)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: –
tel. –
e-mail: m.lacki2@uw.edu.pl
dr Beata Marciniak-Maliszewska (specjalista badawczo-techniczny)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: 2037
tel. (22) 55 40 328
nr pokoju: 2066
tel. (22) 55 40 324
e-mail: b.maliszewska@uw.edu.pl
Grzegorz Widlicki (specjalista inżynieryjno-techniczny)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: 2115
tel. (22) 55 40 055
e-mail: g.widlicki@uw.edu.pl
Tomasz Ziemkiewicz (starszy technik)
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej, Mikroanalizy i Dyfrakcji Rentgenowskiej
nr pokoju: –
tel. (22) 55 40 055
e-mail: t.ziemkiewicz@uw.edu.pl
Sekretariat WG3:
tel. (+48 22) 55 40 300; (+48 22) 55 40 305
fax (+48 22) 55 40 001
pok. 2076
e-mail: sekretariatwg3@uw.edu.pl
Godziny otwarcia:
poniedziałek – piątek godz. 8.00 – 16.00
W skład Laboratorium wchodzą:
- Międzyinstytutowe Laboratorium Mikroanalizy Minerałów i Substancji Syntetycznych (Pracownia Mikrosondy Elektronowej)
- Pracownia Preparatyki Próbek
- Pracownia Rentgenowska
- Środowiskowe Laboratorium Niskotemperaturowej Skaningowej Mikroskopii Elektronowej Cryo-SEM
Dyfraktometr rentgenowski X’Pert PRO MPD
[ulotka, plik pdf]- Proszkowy dyfraktometr rentgenowski X’Pert PRO MPD (producent PANalytical B.V. – Holandia) o geometrii Bragg-Brentano w układzie θ-2θ z możliwością badań transmisyjnych i z zastosowaniem kapilary (DSH).
- Rozdzielczość aparatu – do 0,001 stopnia. Dyfraktometr jest wyposażony w szybki detektor liniowy (PIXcel). Promieniowanie CoKα
- Konfiguracja dyfraktometru pozwala na badania próbek geologicznych, biologicznych, materiałowych oraz środowiskowych. Możliwość zmiany geometrii dyfraktometru na DSH pozwala na identyfikację niewielkich ilości materiału (od kilkunastu mg próbki przy zastosowaniu kapilary o przekroju wewnętrznym 0,3 mm).
- Prowadzimy badania minerałów ilastych (szerzej krzemianów i glinokrzemianów warstwowych) z preparatów orientowanych (metodą Bragg-Brentano).
- Posiadamy specjalistyczne oprogramowanie służące do zbierania danych, grafiki, identyfikacji fazowej, wyznaczania profilu refleksu, indeksowania, wyznaczanie stałych sieci, analizy Rietvelda oraz tworzenie baz danych.
Mikroskop cyfrowy Keyence VHX-7000
Mikroskop optyczny Keyence VHX-7000 to:
- w pełni zautomatyzowany mikroskop cyfrowy
- powiększenia badanych obiektów w zakresie od 20x do 2500x
- możliwość analizy próbek o rozmiarach 10×10 cm i wadze do 3 kg
- obserwacje zarówno w świetle odbitym jak i przechodzącym dzięki wymiennemu stolikowi z wbudowanym polaryzatorem
- szybka i intuicyjna obsługa za sprawą dołączonej konsoli
- rozbudowane oprogramowanie do analizy obrazów i szybkiego raportowania
Zawsze ostry obraz
Funkcja [Depth Composition] umożliwia wykonanie obrazów z maksymalną głębią ostrości nawet przy znacznych różnicach w wysokości powierzchni próbki. Metoda pozwala na przechwyt wielu obrazów z różnych wysokości, przeprowadza łączenie głębi i tworzy jeden wyostrzony obraz, a następnie generuje i wyświetla obraz 3D. Dzięki funkcji zszywania pojedynczych obrazów skan wielkoskalowych próbek dostępny jest w ciągu kilku minut.
Szybkie pomiary podstawowych cech badanych próbek
Funkcji [Measure] pozwala na szybkie pomiary badanych próbek. Dzięki funkcji wyodrębniania, na podstawie koloru lub jasności, możliwe jest typowanie grupy obiektów do dalszej analizy cech np. powierzchni, kolistości, chropowatości itp.
Edycja obrazu bezpośrednio w systemie
Tryb dzielenia obrazu i tworzenia komentarzy pozwala na tworzenie grafik gotowych do zamieszczenia w publikacjach.
Łatwe obserwacje powierzchni próbek
Tryb [Optical Shadow Effect Mode] pozwala dostrzec szczegóły powierzchni, które w innym ustawieniu nie byłyby widoczne.